MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》高低溫恒定濕熱試驗(yàn)箱

　　的規(guī)范條件執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn).中國國家標(biāo)準(zhǔn)分為強(qiáng)制性國標(biāo)（GB）和*性國標(biāo)（GB/T）中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB-89濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB-89高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件滿足標(biāo)準(zhǔn)電工委員會標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-03_試驗(yàn)方法Ca_穩(wěn)態(tài)濕熱電工委員會標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-01_試驗(yàn)方法A_冷電工委員會標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-02_試驗(yàn)方法B_干熱美國軍用標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-507.4濕度美國軍用標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-501.4高溫美國軍用標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-502.4低溫美國軍用標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環(huán)試驗(yàn)美國軍用標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD810D方法502.2美國軍用標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD810方法507.2程序3日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JISC-2-3-1987試驗(yàn)Ca:濕熱、穩(wěn)態(tài)日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JISC-2-2-1995試驗(yàn)B:干熱日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JISC-2-1-1995試驗(yàn)A:低溫美國半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A101-B-2004恒定溫濕度試驗(yàn)美國半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A103-C-2004高溫儲存試驗(yàn)美國半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A119-2004低溫儲存試驗(yàn)中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T2423.1-2001低溫中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T2423.2-2001高溫中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T2423.3-1993恒定濕熱試驗(yàn)方法中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB2423.34-86溫濕度組合循環(huán)試驗(yàn)中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T2423.4-93方法中國國家軍用環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備方法,GJB150.9-8濕熱試驗(yàn)